8V182512IDGGREP

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Artikelnummer 8V182512IDGGREP
LIXINC Part # 8V182512IDGGREP
Hersteller Texas Instruments
Kategorie integrierte SchaltkreiseLogik - Speziallogik
Beschreibung IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
Lebenszyklus Aktiv
RoHS Keine RoHS-Informationen
EDA/CAD-Modelle 8V182512IDGGREP PCB-Footprint und Symbol
Lager USA, Europa, China, Sonderverwaltungszone Hongkong
Voraussichtliche Lieferung Oct 24 - Oct 28 2024(Wählen Sie Expressversand)
Garantie Bis zu 1 Jahr [Eingeschränkte Garantie]*
Zahlung Wire Transfer, UnionPay, PayPal, Credit Card, Visa, MasterCard, AmericanExpress, Discover, WesternUnion, MoneyGram
Versand DHL, UPS, FedEx, TNT, EMS, & More Express Delivery

8V182512IDGGREP Spezifikationen

Artikelnummer:8V182512IDGGREP
Marke:Texas Instruments
Lebenszyklus:Active
RoHS:Lead free / RoHS Compliant
Kategorie:integrierte Schaltkreise
Unterkategorie:Logik - Speziallogik
Hersteller:Texas Instruments
Serie:-
Paket:Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)
Teilstatus:Active
logischer Typ:ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Versorgungsspannung:2.7V ~ 3.6V
Anzahl Bits:18
Betriebstemperatur:-40°C ~ 85°C
Befestigungsart:Surface Mount
Paket / Koffer:64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Gerätepaket des Lieferanten:64-TSSOP

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