SN74LVTH182512DGGR

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Artikelnummer	SN74LVTH182512DGGR
LIXINC Part #	SN74LVTH182512DGGR
Hersteller	Texas Instruments
Kategorie	integrierte Schaltkreise › Logik - Speziallogik
Beschreibung	IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Lebenszyklus	Aktiv
RoHS	Keine RoHS-Informationen
EDA/CAD-Modelle	SN74LVTH182512DGGR PCB-Footprint und Symbol
Lager	USA, Europa, China, Sonderverwaltungszone Hongkong
Voraussichtliche Lieferung	Oct 23 - Oct 27 2024(Wählen Sie Expressversand)
Garantie	Bis zu 1 Jahr [Eingeschränkte Garantie]*
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SN74LVTH182512DGGR Spezifikationen

Artikelnummer:	SN74LVTH182512DGGR
Marke:	Texas Instruments
Lebenszyklus:	Active
RoHS:	Lead free / RoHS Compliant
Kategorie:	integrierte Schaltkreise
Unterkategorie:	Logik - Speziallogik
Hersteller:	Texas Instruments
Serie:	74LVTH
Paket:	Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)
Teilstatus:	Active
logischer Typ:	ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Versorgungsspannung:	2.7V ~ 3.6V
Anzahl Bits:	18
Betriebstemperatur:	-40°C ~ 85°C
Befestigungsart:	Surface Mount
Paket / Koffer:	64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Gerätepaket des Lieferanten:	64-TSSOP

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